Pressmeddelande
Unika möjligheter med nyutvecklat FE-SEM
2012-10-17 09:05
Ett nyutvecklat fältemmissions-svepelektronmikroskop (FE-SEM) har installerats på Swerea IVF i Mölndal. Detta ger unika möjligheter att undersöka alla typer av material med extremt hög upplösning.
Den första installationen av JEOL JSM-7800F finns på Swerea IVF i Mölndal! Det nyutvecklade fältemmissions-svepelektronmikroskopet (FE-SEM) ger unika möjligheter att undersöka alla typer av material med extremt hög upplösning.
Genom att spänningssätta provet kan en nettospänning (landing voltage) på ner till 0,01 kV åstadkommas, vilket ger hög känslighet för fina strukturer i materialet. Dessutom finns analysmöjligheter med hög precision av både kvalitativ och kvantitativ röntgen (EDS) och diffraktion av bakåtspridda elektroner (EBSD).
Hör gärna av dig för att diskutera hur vi kan hjälpa dig och hur mycket vi kan ta reda på om just ditt material!
Kontakta:
Lars Eklund, lars.eklund@swerea.se
eller
Melina da Silva, melina.dasilva@swerea.se
Bifogade filer
Kategorisering
- Ämnen:
- Vetenskap, teknik
- Tags:
- fältemmissions-svepelektronmikroskop
- fraktografi
- felanalys
- haverianalys
- materialanalys
- högupplösande sem
- fegsem
- fe-sem
- sem
- ebsd
- edx
- eds
- forskning
- swerea ivf
- institut
Lägg till kommentarKommentaren sparades
Innan den publiceras måste den godkännas av Swerea.