Bild -

Aktiva skiktet i tunna solceller

Bilden visar ett genomsnitt av de aktiva skikten i den tunna solcellen, som sammanlagt inte är tjockare än 3 mikrometer. Med nano-XRF mätt på MAX IV i Lund är det möjligt att med hög noggrannhet mäta både koncentrationen av huvudämnen och spårämnen (i detta fall rubidium) i solcellen.
Marika Edoff
Licens:
Medieanvändning
Innehållet får laddas ner, användas och delas i olika mediekanaler av t.ex. journalister, bloggare, krönikörer, opinionsbildare etc., i syftet att förmedla, redogöra för och kommentera ert pressmeddelande, inlägg eller information, så länge innehållet används oförändrat och i dess helhet. Upphovsmannen ska anges i den omfattning och på det sätt god sed kräver (vilket bl.a. innebär att fotografer till bilder nästan alltid måste anges).
Av:
Marika Edoff
Upphovsrätt:
Marika Edoff
Filformat:
.jpg
Storlek:
964 x 542, 160 KB
Ladda ner

Ämnen

Kategorier

Regioner

Kontakter

Fyll i din epostadress för att följa Uppsala universitet

När du väljer att skapa ett konto och följa ett nyhetsrum kommer dina personuppgifter behandlas av oss och av ägaren av nyhetsrummet för att du ska kunna motta nyheter och uppdateringar enligt dina bevakningsinställningar.

För att läsa mer om detta, var vänlig läs vår Integritetspolicy som berör vår behandling av dina personuppgifter, och Integritetspolicy för Contacts som berör behandlingen av dina personuppgifter från ägaren av nyhetsrummet du följer.

Vänligen notera att våra Användarvillkor gäller alla våra tjänster.

Du kan dra tillbaka ditt samtycke när som helst genom att avregistrera dig eller genom att ta bort ditt konto.
Kolla din inkorg

Mejl skickat till __email__. Klicka på länken i mejlet för att följa Uppsala universitet.

Okej